恒溫恒濕試驗(yàn)箱校驗(yàn)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)有哪些？

　　在恒溫恒濕試驗(yàn)箱的使用之前，需要對(duì)其做校驗(yàn)校準(zhǔn)。因?yàn)檫@個(gè)設(shè)備的使用也有相關(guān)的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的，那么，恒溫恒濕試驗(yàn)箱校驗(yàn)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)有哪些？下面跟著小編一起來(lái)了解一下。對(duì)于一個(gè)可靠性試驗(yàn)設(shè)備，對(duì)其做校驗(yàn)校準(zhǔn)是為了讓試驗(yàn)結(jié)果更加準(zhǔn)確，一般來(lái)說(shuō)，恒溫恒濕試驗(yàn)箱的校驗(yàn)校準(zhǔn)可以分為以下三類：（1）電子工業(yè)部第五研究所編寫的GB/T5170.1-1995《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》、GB/TS170.2-1996《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備》、GB/T5170-1996《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備等》。（2）河北省計(jì)量科學(xué)研究院編寫的JJF1101-2003《恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》。（3）機(jī)械電子工業(yè)部編寫的GBI1158-1989《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB-1989《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB-1899《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB-1989《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB-1989《鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件》等。

　　上面就是恒溫恒濕試驗(yàn)箱的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，在校準(zhǔn)的方法中，共有3個(gè)方法，下面請(qǐng)看這幾種方法的優(yōu)缺點(diǎn)，方便大家在使用前選擇合適的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)方法。恒溫恒濕試驗(yàn)箱進(jìn)行校準(zhǔn)的3種方法以及優(yōu)缺點(diǎn)：1、在有負(fù)載條件校準(zhǔn)：此方法的優(yōu)點(diǎn)是：能夠比較準(zhǔn)確地評(píng)估測(cè)試樣品對(duì)恒溫恒濕試驗(yàn)箱性能的影響、易于得到測(cè)試樣品關(guān)鍵部件或部位的環(huán)境試驗(yàn)的詳細(xì)信息。而它的主要缺點(diǎn)是：當(dāng)更換測(cè)試樣品時(shí)，需要重新校準(zhǔn)。2、在無(wú)負(fù)載條件校準(zhǔn)此方法的優(yōu)點(diǎn)是：可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱的整個(gè)工作區(qū)域都得到了校準(zhǔn)、能夠?qū)υ囼?yàn)箱的適用性做出有效的評(píng)估。而它的主要缺點(diǎn)是：不能評(píng)估測(cè)試樣品對(duì)試驗(yàn)箱所造成的影響。3、在使用過(guò)程中的時(shí)實(shí)測(cè)量此方法的優(yōu)點(diǎn)是：不僅具有和上述的方法具有的優(yōu)點(diǎn)。而且能夠得到測(cè)試樣品在環(huán)境過(guò)程中全面的環(huán)境參數(shù)，往往在對(duì)環(huán)境的要求很高的產(chǎn)品試驗(yàn)時(shí)采用。它的主要缺點(diǎn)是：每次環(huán)境試驗(yàn)都需要使用測(cè)量設(shè)備，通常在試驗(yàn)箱校準(zhǔn)時(shí)采用無(wú)負(fù)載條件下的校準(zhǔn)方法。一般在通過(guò)上述方式對(duì)恒溫恒濕試驗(yàn)箱進(jìn)行調(diào)試校準(zhǔn)，能盡量模擬出較為可靠的試驗(yàn)環(huán)境，從而對(duì)試樣作出準(zhǔn)確的分析及評(píng)價(jià)。以上就是關(guān)于恒溫恒濕試驗(yàn)箱的一些校驗(yàn)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，如果大家還有什么不了解的地方，可以隨時(shí)來(lái)電免費(fèi)咨詢。